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■测试整合专区>(SIR-2006)绝缘电阻测试系统
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RoHs的要求与各国对于无铅产品的认同，加速各个生产厂商无不淘空心思解决产品再导入无铅制程的问题，但是一家公司的产品线非常多，由于现在很多都是少量多样的弹性生产，需要同一个时间进
行多项产品的试验，但是离子迁移的量测需要好几百个小时，所以使用者希望能够进行多轨的迁移试验，而且也希望能够降低使用成本，所以庆声特别针对客户的需求，研发出扫瞄式的表面绝缘电阻量测系(SIR-2006)，可扩充达200轨的迁移量测，而且突破传统扫瞄式表面绝缘电阻量测系统的极限，无法记录
迁移结束时间还有纪录迁移发生时间，原本SIR-2003所拥有的图型曲线分析功能也都具备，让客户以最少的设备成本，可以得到最大的生产效益。 |
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各轨具备泄漏电流侦测回路，各轨同步纪录离子迁移状态(发生时间、结束时间、迁移时间)
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世界首创轨道发生迁移，不停止量测，可持续记录迁移发生情况
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宽裕量测与施加电压0.5V～250V(分辨率0.1V)，施加电压可正负切换，满足离子迁移&表面绝缘电阻
试验条件
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量测轨道扩充量大，最大可扩充200轨
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产品名称 |
SIR-2006
绝缘电阻测试系统 |
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测定电压范围 |
0.5V～
600V(0.1V STEP) |
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最大channel数 |
200 Channel |
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电阻量测范围 |
1×10^6Ω～1 ×10^13Ω |
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直流电流测定范围 |
(10pA～500uA)自动切换5段直流电流量测范围 |
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Bias Supply
方式 |
1 Power Supply → 40 CH |
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泄漏电流侦测速度 |
1us(各轨独立侦测)[可设定泄漏电流侦测大小] |
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漏电流测定放大器 |
Low
Bias 电流高精度OP放大回路 |
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绝缘电阻测试系统(表面绝缘阻抗)机台建议摆设示意图 |
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缩图 |
名称 |
档案大小 |
页数 |
下载 |
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绝缘电阻测试系统
(离子迁移SIR-2006)
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(size:
696KB)
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SIR相关资料整理 |
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SIR试验条件
(离子迁移&CAF) |
无铅制程的相关可靠度问题，对于PCB&FPC还有焊锡业者来说，表面绝缘电阻降低、板材产生离子迁移与CAF(阳极导电性细丝物)..等，都是现今所必须要面对的课题之一..... |
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专有名词解释-PCB印刷电路板 |
离子迁移与相关印刷电路板专有名词介绍与说明 |
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高速表面绝缘电阻量测系统
高速表面绝缘电阻量测系统介绍-THS使用注意事项、待测物注意事项、待测物与试验炉、HSIR注意事项...等内容. |
(size:
420 KB) |
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离子迁移&绝缘电组
运用问答题方式.让我们更加了解SIR相关内容资料. |
(size:276KB) |
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