高压加速寿命试验装置

温湿度相关环境试验设备系统产品/高压加速寿命试验装置

高压加速寿命试验装置
(High Pressure Accelerating Life Tester)

高压加速寿命试验装置最主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，
湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体。
常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等

Laboratory class真空泵浦设计(锅炉内空气抽出)提高压力稳定性、再现性

超长效实验运转时间，长时间实验机台运转300小时

tank干燥设计，试验终止采真空干燥设计确保测试区(待测品)的干燥

创新USB2.0储存接口，内建USB2.0&磁盘驱动器数字记录器储存接口

水位保护，透过炉内水位Sensor检知保护

tank耐压设计，箱体耐压力(140℃)2.65kg，符合水压测试6kg

二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置

安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮

KPCT-S-2005 彩色触控式控制系统

直立式全彩液晶TFT,简/繁/英文显示器

0.01℃ / 0.1% RH精确解析能力

9999 HOURS / STEP 每段可控制时间

150 program x 100 step 程序记忆容量

USB2.0储存接口与曲线记录

12 bit D/A 温度湿度转换接口

全自动控制与安全保护协调系统

High power LED运转状态指示灯

规格(SPECIFICATION)	(KPCT-S)
内箱尺寸(Inside dimensions (W．D．H) cm)	ψ26 X 40(L) (cm)
外箱尺寸(Outside dimensions (W．D．H) cm)	65 X 85 X 63 (WDH)
内容积(Inside capacity) / 公升(Liter)	21
内箱材料(Internal material)	不锈钢#316
外箱材料(External material)	SECC
温度范围(Temperature range)	105~132℃
压力范围(Pressure range)	1.2~2.89kg(含1atm)
温度分布均匀度(Temperature uniformity ℃)	±1
湿度分布均匀度(Humidity uniformity %RH)	±5
主要装置(MAJOR DEVICE)
结构 (Structure)	标准压力容器
加湿系统(Humidification system)	电热管
加湿给水系统(Humidification water supply)	手动加水
控制器(Controller)	PCTS-2005 Touch panel
链接库编辑	150组程序
电压(V)	220V~240V 50/60HZ单相
功能	预备真空功能(试验前)、真空干燥功能(试验后)

※请以实际产品为主，机台外观与规格变更不另行通知。

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高压加速寿命试验装置(KPCT)

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