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高度加速壽命試驗機
(Highly Accelerated Stress Tester) |
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加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT(HAST)
现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。
注意事项：USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验) |
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智能型排气设计(锅炉内空气抽出)提高压力稳定性、再现性 |
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长时间实验机台运转400小时超长效实验运转时间 |
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内建USB2.0&磁盘驱动器数字记录器储存接口创新USB2.0储存接口 |
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箱体耐压力(140℃)2.65kg，符合水压测试6kg tank耐压设计 |
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二段式压力安全保护装置采两段式结合控制器与机械式压力保护装置 |
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安全保护排压钮紧急安全装置二段式自动排压钮 |
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直立式全彩触控控制系统
控制系统通过EMC(电磁兼容性)验证
直立式全彩液晶TFT,简/繁/英文显示器
0. 01℃ / 0.1% RH精确解析能力
9999 HOURS / STEP 每段可控制时间
150 program x 100 step 程序记忆容量
USB2.0储存接口与曲线记录
12 bit D/A 温度湿度转换接口
全自动控制与安全保护协调系统
High power LED运转状态指示灯 |
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温度范围105℃～132℃
湿度范围：75%~100% / 105 ℃~132 ℃
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规 格(SPECIFICATION) |
(HAST-S) |
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内箱尺寸(Inside dimensions (W．D．H) cm) |
φ22 X 33(L) (cm) |
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外箱尺寸(Outside dimensions (W．D．H) cm) |
65 X 90 X 63 (W*D*H) |
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内容积(Inside capacity) / 公升(Liter) |
12 |
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内箱材料(Internal material) |
不锈钢#316 |
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外箱材料(External material) |
SECC |
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温度范围(Temperature range) |
105℃～132℃ |
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湿度范围(Humidity
Range) |
75%~100% / 105 ℃~132 ℃ |
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温度分布均匀度(Temperature uniformity ℃) |
±1.0 ℃ |
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湿度分布均匀度(Humidity uniformity %RH) |
±5 % |
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温度稳定度(Temperature stability ℃) |
± 0.3 ℃ |
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主要装置(MAJOR DEVICE) |
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结构 (Structure) |
标准压力容器 |
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加湿系统(Humidification system) |
电热管 |
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加湿给水系统(Humidification water supply) |
手动加水 |
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控 制 器(Controller) |
HAST-S-2005 Touch panel |
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链接库编辑 |
150组程序 |
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电压(V) |
220V～240V 50/60Hz单相 |
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※请以实际产品为主，机台外观与规格变更不另行通知。 |
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高度加速寿命试验机(HAST-S) |
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