绝缘电阻测试系统
．RoHs的要求与各国对于无铅产品的认同，加速各个生产厂商无不淘空心思解决产品再导入无铅制程的问题，但是一家公司的产品线非常多，由于现在很多都是少量多样的弹性生产，需要同一个时间进 行多项产品的试验，但是离子迁移的量测需要好几百个小时，所以使用者希望能够进行多轨的迁移试验，而且也希望能够降低使用成本，所以庆声特别针对客户的需求，研发出扫瞄式的表面绝缘电阻量测系(SIR-2006)，可扩充达200轨的迁移量测，而且突破传统扫瞄式表面绝缘电阻量测系统的极限，无法记录 迁移结束时间还有纪录迁移发生时间，原本SIR-2003所拥有的图型曲线分析功能也都具备，让客户以最少的设备成本，可以得到最大的生产效益。