昆山庆声电子创新技术发表-温度循环试验箱

庆声创新研发技术-
庆声突破传统RAMP受限于固定温变的控制，首创业界研发出温度循环试验箱，单一chamber除了可执行RAMP试验条件之外(温变率任意设定)，并且可以执行传统冷热冲击机三箱(过常温冲击)与两箱(高低温冲击)的冲击试验，在RAMP的温变率上还可于5℃～30℃中任意设定，满足各种试验条件的需求。
例如：(5℃：锡须试验、10℃：JEDEC JESD22-A104-A、15℃：IEC 60749、17℃：MOTO、20℃：DELL D4559 & IEC 9701)，所以一台庆声的TSR试验机具备有两种试验机台的价值，不仅可执行的试验条件范围广泛之外，还可以节省客户试验成本并且缩短试验时间提高效率。

另外，因为应用范围广泛，温度循环试验箱更能满足业界与规范的要求，让您灵活运用好方便，例如：无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC60068-2-14NB、JESC22A14C、IPC 9701...等试验皆能使用庆声的TSR设备来进行实验。

昆山庆声电子的测试整合服务是我们秉持研发精神的一贯方向，TSR设备一样可以使用e化管理系统进行远程监控，庆声的e化管理系统满足庆声全系列产品，让你将时间花在有价值的事情上。
新年度昆山庆声电子将更致力于新机台的研究与技术探索，期盼能让客户拥有更高的试验效率创造更高的佳绩。「2007年庆声与您携手迈进」
 

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温度循环试验箱特色：

1.温度循环试验箱可设定任意冲击温变率5℃～30℃(40℃)[任意变化温变率条件]

2.温度循环试验箱满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB
  JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求

3.温度循环试验箱可执行RAMP(设定温变率)、三箱(过常温)、两箱(高低温冲击)冲击试验

4.温度循环试验箱可试验待测品负载量大

5.温度循环试验箱需除霜循环数高，缩短试验时间与费用

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