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多轨表面绝缘电阻量测解决方案

    2006/09/14  作者:庆声科技
 
 

      

 RoHs的要求与各国对于无铅产品的认同,加速各个生产厂商无不淘空心思解决产品再导入无铅制程的问题,但是一家公司的产品线非常多,由于现在很多都是少量多样的弹性生产,需要同一个时间进行多项产品的试验,但是离子迁移的量测需要好几百个小时,所以使用者希望能够进行多轨的迁移试验,而且也希望能够降低使用成本,所以庆声特别针对客户的需求,研发出扫瞄式的表面绝缘电阻量测系统(SIR-2006),可扩充达200轨的迁移量测,而且突破传统扫瞄式表面绝缘电阻量测系统的极限,无法记录迁移结束时间还有纪录迁移发生时间,原本SIR-2003所拥有的图型曲线分析功能也都具备,让客户以最少的设备成本,可以得到最大的生产效益。

  

  产品特性


各轨具备泄漏电流侦测回路,各轨同步纪录离
    子迁移状态(发生时间、结束时间、迁移时间)
世界首创轨道发生迁移,不停止量测,可持续
    记录迁移发生情况
宽裕量测与施加电压0.5V~250V(分辨率0.1V)
   ,施加电压可正负切换,满足所有离子迁移试
    验条件
量测轨道扩充量大,最大可扩充200轨
业界首创RAID双硬盘及自动定时备份数据保
    护架构

 

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